機(jī)械密封應(yīng)用之全縱標(biāo)分布曲線

    機(jī)械密封應(yīng)用之全縱標(biāo)分布曲線
    在機(jī)械密封的應(yīng)用中，取樣長度內(nèi)，每隔一段長度測量出的值等，并求出任一給定高度處的縱坐標(biāo)數(shù)之和。如果取這個分布曲線所包圍的面積，便可求出概率密度曲線，即在任何給定的值時，水平方向上的尺寸就表現(xiàn)出這個值的縱坐標(biāo)的可能概率。—般情況下，表面輪廓的高度呈髙斯正態(tài)分布。研磨的表面躭是如此。

本文源自http://www.zhijiahome.com/news/339.html，轉(zhuǎn)載請注明出處。

(責(zé)任編輯：機(jī)械密封http://www.zhijiahome.com)

上一篇：機(jī)械密封應(yīng)用中的輪廓最大高度化　　下一篇：機(jī)械密封應(yīng)用之支承面積曲線

• 上一篇：機(jī)械密封應(yīng)用中的輪廓最大高度化
• 下一篇：機(jī)械密封應(yīng)用之支承面積曲線